四探针测试仪虽然很多工厂经常使用，但是真正了解它的人却不多，因此下面我们就一起来了解一下四探针测试仪在半导体行业的应用，希望对您了解该产品有帮助。

　　材质分类：

　　现阶段大家相对比较了解的薄膜半导体材质具体有下面这一些：依据材质自身的用处和性质区分。

　　覆盖膜;导电性高分子膜，高、超低温电热膜;

　　隔热保温、导电性窗膜导电性（屏蔽掉）布、装饰膜、装饰纸;

　　金属化标识、合金材料类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂敷、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;

　　导电性薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等材质的薄层。

　　四探针测试仪材质性能：

　　靠电子和空穴二种载流子完成导电性，室内温度时电阻率一般在10-5——107欧•米相互之间。一般电阻率随温度上升而转变;若掺加活性残渣或用光、射线辐照，可让其电阻率有好几个数量级的转变。

　　半导体材质的导电性对外部标准（如热、光、电、磁等要素）的转变十分敏感，由此能够生产制造各种各样敏感元件，用以信息变换。半导体材质的性能主要参数有禁带宽度、电阻率、载流子迁移率、非平衡载流子使用寿命和位错相对密度。

　　以上就是为您讲解的四探针测试仪在半导体行业的应用，相信大家都了解了。由于该产品比较复杂，所以您如果还有什么问题，可以随时咨询我们。