方块电阻测试仪由于测量精确，所以被很多人群喜爱，但是人们却对它了解不多，因此下面小编就来为您讲解方块电阻测试仪的四探针法功能。

　　方块电阻的计算方式

　　方块电阻又被称为膜电阻，是用以间接地表现薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等试品上的真空镀膜的热红外特性的检测值，该数值的大小可直接计算为热红外辐射率。

　　方块电阻的计算方式：

　　方块电阻：Rs=ρ/t（当中ρ为块材的电阻，t为块材薄厚）

　　或是写出电导率的关系式：Rs=1/（σt）

　　那样在算块材电阻的情况下，大家就可以运用方块电阻乘于宽和长比率获得，计算流程与维度没有关系：

　　R=Rs*L/W（L为块材总长度，W为块材净宽）

　　方块电阻测试仪是用于检测半导体器件（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻，及其扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的检测仪器。大显示屏，直观性度数，稳定性能好，能够外接其它操控单元，与其它信息系统集成应用;主要用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热保温、导电窗膜等。

　　方阻检测新品为薄膜检测给予机械、电气两层面的维护，在宽阔的量程范畴内，使各类电子薄膜能获得精确、无损的方块电阻检测结果。

　　因此新式薄膜原材料品种繁杂，研发流程中试品特性转变比较大，而且各类薄膜的机械强度，容许承担的电压、电均不一样，因而测试仪能为用户量身定做各类定探针压力及曲率半径的探针头，检测电压和检测电均可持续调整，给薄膜、涂层的研制者给予了个摸索检测条件的宽阔空间。

　　因此方块电阻测试仪设立恒源开关，而且全部电档在探针与试品触碰后均有电连接的作用，充分维护了试品表层并不会因此探针触碰时造成的电火花而遭受毁坏