方块电阻测试仪的设计方案满足单晶硅物理测试标准规范并参照国外A.S.T.M规范。成套构成：由主机、配置的四探针探头等二部分构成，也可加配测试台。仪器设备的参数设置、作用变换都选用轻触按键输入；具备零位、满度自校作用；手动/自动变换量程可选；检测结果由数字表头可以直接显示信息。方块电阻测试仪选用可充电电池供电，合适手持式变动场所操作应用！

　　探头配置：依据不一样材质特性需求，探头可有多款配置。有超耐磨碳化钨探针探头，以检测硅类半导体、金属、导电塑料类等硬性材质的电阻/方阻；也是有球型镀金铜合金探针探头，能测软性材质导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜（ITO膜）或纳米涂层等半导体的电阻/方阻。替换上四端子检测夹具，还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻及其开关类接触电阻开展精确测量。配备专用型探针，还可以检测电池片等箔片涂层的电阻。仪器设备具备测量精度高、灵敏度高、稳定性能好、智能化程度高、结构紧凑、应用便捷等特性。仪器设备主要用于半导体厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体的手持式导电性能的检测。

　　以上就是为您介绍的方块电阻测试仪的测量标准，相信大家都了解了，所以为了保证测量数据准确，需要人门对其多多了解。