人们虽然知道方块电阻测试仪，但是对于它的功能了解多少呢？为了方便各位了解的更多，下面就由小编来为您详解一下方块电阻测试仪的功能。

　　方块电阻的计算方式

　　方块电阻又被称为膜电阻，是用作间接性表现薄膜膜层、玻璃镀膜膜层等试品上的真空镀膜的热红外性能的检测值，该数据的大小可直接的计算为热红外辐射率。

　　方块电阻的计算方式：

　　方块电阻：Rs=ρ/t（当中ρ为块材的电阻，t为块材薄厚）

　　或是写出电导率的关系式：Rs=1/（σt）

　　那样在算块材电阻的情况下，大家就可以运用方块电阻乘于长宽占比获得，计算流程与维度不相干：

　　R=Rs*L/W（L为块材总长度，W为块材总宽）

　　方块电阻测试仪是用于检测半导体器件（主要是硅单晶、锗单晶、硅片）电阻，及其扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶方块电阻的检测仪器。大显示器，直观度数，稳定性能好，能够外接别的调整单元，与别的信息系统集成应用;主要用于覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热保温、导电窗膜等。

　　方阻检测新产品为薄膜检测给予机械、电气两层面的维护，在宽阔的量程范畴内，使各类电子薄膜能获得精确、无损的方块电阻检测效果。

　　由于新型薄膜原材料类型多样，研发流程中试品性能转变 很大，而且各类薄膜的机械强度，容许承担的电压、电均不一样，因而测试仪可以为用户量身定做各类定探针压力及曲率半径的探针头，检测电压和检测电均可持续调整，给薄膜、涂层的研制者给予了个探索检测标准的宽阔空间。

　　由于方块电阻测试仪设立开关，而且全部电档在探针与试品触碰后均有电接通的作用，充分维护了试品表层并不会由于探针触碰时造成的电火花而遭受毁坏。