对于四探针测试仪这种设备您了解多少？很多人都是在用到的时候，才会多少了解一些。为此下面小编就为您详解四探针测试仪的特点。

　　本设备是应用四探针测量工作原理的多功能概括测量设备。该仪器按照单晶硅物理测试方式国家标准规范并参考美国A.S.T.M标准规范而制定的，常用于测试半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）的专用仪器。仪器由主机、测验台、四探针探头、计算机等部分组成，测量数据既可由主机直接呈现，也可以由计算机控制测试收集测试数据到计算机中具体分析，随后以表格，图形方式统计分析呈现测试结论。

　　四探针测试仪选用了新电子信息技术开展制定、组装。具备作用挑选直观、测量取数快、高精度、测量规模宽、稳定性好、结构紧凑、易操作等特点。本仪器的特点是主机装备双数字表，在测量电阻率的一起，另一块数字表（以万分之几的精确度）及时检测全过程的电流更改，摒弃了测量电流/测量电阻率的转换，更及时把握测量电流。主机还供给精确度为0.05%的恒流源，使测量电流高度稳定。本机装有恒流源开关，在测量某一些箔层材料时，可摒弃探针尖与被测材料之间触摸火花的发生，好地维护箔膜。仪器装备了本公司的专利技术："小迟疑四探针头"，探针迟疑率在0.1——0.2%。保证 了仪器测量电阻率的重复性和准确度。本机如配加HQ-710E数据处理器，测量硅片时可积极主动开展厚度、直径、探针距离的批阅，并计算、打印出硅片电阻率、径向电阻率的大百分更改、均值百分更改、径向电阻率不均匀习庋。给测量提供较大便捷。