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四探针半导体粉末电阻率测试仪常见方法

2021-01-28

  四探针半导体粉末电阻率测试仪是测量电池极片电导值的经常使用方法。这主要是因为四点探针法消除了探针与样品(压缩片或涂层)之间的接触电阻。殊不知,有两点特别注意。首先,在绝大部分四探针方法中,电极材料的浆体在绝缘电阻基板上涂上一薄层或适当薄厚,而不是像铝箔这样的集电极材料。

  在绝缘电阻基板上涂敷这样的涂层的效果是为了更好地准确地测试电极材料的电导率,防止向基板方向的支流。假如衬底电流收集器材料,即便 分岔电流通过调整探头的距离和其他方法,电流的方向平行转移到涂料,忽视基体和涂层之间的差别,所以结果只可以代表涂层的电阻。

  实际情况极片,但界面电阻。第二,电池的电极涂层在实际应用相对较厚和四探针方法忽视了涂层梯度的磁极,只获得涂层的电阻贡献的一部分,不能完全描述磁极的电阻值。由于铜箔、铝箔和探头的材料均为高导电性材料,所以集流器和探头的体电阻只占很小的一部分。

  以粉末活性材料为例,连接粉末电阻测试系统和低电阻率测试仪进行测试。粉末电阻测试不是测试单个粉末颗粒,而是测试整个聚集的粉末样品。粉末聚集在气缸和活塞系统中,由连接到油泵的活塞增压。当压力较小时,试样密度相对较低,与粉末接触较差,电导率较低,电阻率测试仪较高,但与强压力相反。因此,需要特别注意的是,粉末样品的电阻率测试仪/导电性会随着压力的增加而持续变化。湿度也会增加电导率,所以测试环境中的湿度也会影响测试。


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