欢迎访问苏州晶格电子有限公司
联系热线:

18914021918

400-635-7098

数字式四探针测试仪测量电阻率

2020-12-30

电阻率的测量是半导体材料常规的参数测量项目。有许多方法可以测试电阻率,如三探针法,电容---电压法,扩展电阻法等。目前广泛采用的标准方法是四探针法,最常用的是半导体工艺法。该法设备简单,操作方便,对样品几何尺寸要求不严格,精度高。除了测量半导体材料的电阻率,四探针测试仪在半导体器件的生产中也得到了广泛的应用,用来测量薄层扩散层的电阻,从而判断扩散层的质量是否符合设计要求。


当材料切分成多个方体时,其平行面与相对角的电阻值仅与材料类型有关,而与正方形边长无关。电阻率可以反映材料单位体积的导电性,称为电阻率。四探针测试仪在将薄膜导体和半导体材料切成薄层方块时,平行面和相对面之间的电阻值仅与材料的种类和厚度有关,而与正方形边长无关。


数字式四探针测试仪是一种多功能综合测量仪,利用四探针测量原理测量电阻率/方阻。可根据材料的不同性质要求配备多种试验探头:


大功率耐磨碳化钨探头,测量硅半导体、金属、导电塑料等硬质材料的电阻率/方块电阻;球形镀金铜合金探针,用于测量半导体材料的电阻率/方块电阻,如柔性材料导电膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃基板上的导电膜(ITO薄膜)或纳米涂层;四探针测试仪组合测试夹具,测量电阻体电阻、金属导体的中低电阻和开关接触电阻;一种特殊的探针用于测试箔片(如电池极片)上涂层的电阻率/方块电阻。

推荐产品

  • 电阻率测试仪
  • 四探针测试仪
  • 电阻率测量仪
  • 电阻率仪
  • 四探针电阻率测试仪
  • 方块电阻测量仪